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電子鎖老化測試設(shè)備,老化測試治具,老化架
發(fā)布時(shí)間:2024-09-06 丨 閱讀次數(shù):
電子鎖老化測試設(shè)備,老化測試治具,老化架
電子鎖老化測試設(shè)備,老化測試治具,老化架,模擬人測試開鎖開鎖3萬次,次數(shù)可設(shè)置,檢測老化過程中如有鎖壞,記錄起來,老化測試又稱壽命測試。這個(gè)鎖要求是控制NFC卡去自動(dòng)開鎖,測試并老化。老化平臺(tái)用的是電腦控制單片機(jī),還有USB6001組成的老化平臺(tái)。